FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合严苛标准。
准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足行业电镀规范。
FT110A – 测量极小目标
FT110A 帮助诸多的行业确保符合电镀规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。此外,该仪器可减少一系列测量所需的时间,从而帮助提高生产力。
在任何质量保证或质量控制系统中,准确性和可靠性均至关重要,拥有改良的 X 射线荧光技术的FT110A将使您的产品满足最高标准的行业规范要求。
借助更新的成像系统、全新的自动测量定位功能和大型样品台,确保这台镀层分析仪易于使用并提高分析效率。
基于 Windows 系统的 X-ray Station软件提供直观的用户界面,用户可对该仪器进行全面控制。
通过将数据直接整合到 Microsoft™ Word 和 Excel中来简化您的质量保证/质量控制流程。
为何如此多的实验室改为使用 FT110A?
快速分析
强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。
无损
X 射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹。即使是对敏感性材料,其测量也是安全的;同时无需丢弃被测量过的样品。
多功能性
FT110A 可以分析多达四层镀层和基材。可以使用基本参数 (FP) 或经验校准来测量镀层和材料成分(如金属合金或电镀液)。
易于使用
培训可轻松完成,因此任何人都可以操作 FT110A。只需在工作台上设置样品,借助友好的界面指定测量区域,然后开始记录读数。用户界面可配置为仅显示日常操作所需的功能。
快速分析
强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。
兼容性
测量方法符合标准 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
产品亮点
专为高通量生产而设计,来看 FT110A 如何支持您的质量控制。
强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
对成品安全的无损检测
自动化功能提高生产力
分析多达四层和基材,加上电镀液
易于非专业操作员使用
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
大样品舱可容纳各种样品
可定制的选项以适合您的应用
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