原理

X荧光经晶体分光，在不同行射角测量不同元素的特征线

X荧光直接进入检测器，经电子学系统处理得到不同元素(不同能量)的X荧光能谱

结构

为满足全波段需要，配置多块晶体，根据单道扫描和多道同时测定的需要，设置扫描机构和若干固定通道

无扫描机构，只用一个检测器和多道脉冲分析器，结构简单得多，无转动件，可靠性高

X-光管

高功率，要高容量冷却系统，管寿命短

低功率，不需冷却水，管寿命水

检测器

正比计数器，和λ、晶体、检测器有关

Si(Li)，用LN冷却

灵敏度

μg/g级

轻基体μg/g级，其它10~10²μg/g级

准确度

取决于标样

取决于标样

精密度

很好

低浓度时不如WD

系统稳定性

需作周期性漂移校正，定期作工作曲线

好，工作曲线可长时间使用

方便性

一般

好

分析速度

单道慢，多道快

快

人员要求

较高

一般

样品表面

要求平坦

要求不高

价格

价格贵

价格便宜，适用中小企业

测定元素范围

Z≥5B-U

Z≥11，Na-U，特殊薄窗时可Z≥8，O-U