广州仪德公司专业代理日本理学ZSXPrimusⅡ型波长色散X荧光光谱仪，今天分享ZSX PrimusⅡ波长色散X荧光光谱仪在使用过程中频繁出现X射线发生器发生异常状态故障现象及故障处理，其错误级别:失败，出错部位:X射线发生器，错误内容:X射线发生器异常状态，错误代码:23?（故障记录如下图片所示）故障处理1、首先排除光管散热差造成的故障?清洁二次水(内循环水)过滤器滤芯，恢复后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、补足二次水(内循环水)水箱，并调节其水压由0.32MPa-0.

广州仪德公司专业代理日本理学波长色散X射线荧光光谱仪?，在理学光谱上得到广泛用户的好评与支持，日本理学波长色散光谱仪应用非常的广泛：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。同时检测材料状态也比较比样性：粉末样品、块状样品、液体样品。

波长色散x射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分

理学Micro-ZUL波长色散X射线荧光低硫分析仪是仪德公司代理的一款进口产品，它是石油基燃料中硫分析的理想解决方案，具有较低的检测限，S(LLD)0.3ppm。稳固的光学系统安装在真空环境中，配置专门设计的RX-9双弯曲分光晶体，Mirco-ZULS提供一贯的高灵敏度测量。从校准到日常分析的所有操作，可以通过简易操作界面来执行，即使初次使用的用户也可以快速掌握。

根据JJG810-1993中华人民共和国国家计量检定规程《波长色散X射线荧光光谱仪》，对仪器进行检定/校准，在确保各项指标合格的前提下，仪器方可投入使用。本文对检定中涉及的指标进行具体实验分析统计，给出详细的统计结果。并对检定的项目进行了探讨，为下一步检定规程的修订提供了建议。波长色散X射线荧光光谱仪检定规程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射线荧光光谱仪已经进行了飞速的发展，如今的波长色散X射线荧光光谱仪器已经发展到了波谱、能谱和微区扫描三者相结合的大型仪器，具备了更优异的检测性能和新增了扫描性能，并且随着国

多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的，本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构，一分钟快速掌握其中的奥秘。项目波长色散型能量色散型原理X荧光经晶体分光，在不同行射角测量不同元素的特征线X荧光直接进入检测器，经电子学系统处理得到不同元素(不同能量)的X荧光能谱结构为满足全波段需要，配置多块晶体，根据单道扫描和多道同时测定的需要，设置扫描机构和若干固定通道无扫描机构，只用一个检测器和多道脉冲分析器，结构简单得多，无转动件，可靠性高X-光管高功

日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪两款产品各有独自的优势，针对不同类的样品检测各有着长处之处，波长色散型X荧光光谱仪在分析上有着很高的精确度和精密度，能量色散型多数用去牌号的快速检测和筛选。下面从这两款光谱仪的原理与功能介绍它们之间的存的区别有哪些。

日本理学波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在-一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X射线管的效率极低，只有1%的电功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷)，因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。

ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州市仪德科学仪器有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。故障现象：进行PHA日常调节时，PC探测器微分曲线谱峰太低，严重变形，无法计算分辨率、“错误内容”提示“因为脉高微分曲线的谱峰太低，所以不能进行PHA调节”，“维护信息”显示：“可能使用了错误的PHA调节样品，或者PHA调节的条件设置错误”。

ZSX Primus Ⅱ 波长色散型X射线荧光光谱仪在检测过程中由于不正确的使用或者没有定期的进行维护保养，容易造成机器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波长色散型X射线荧光光谱仪在分析中出现X光管故障的现象、产生的原因与最终解决的二种方法。第一故障现象：正常使用过程中，X光管忽然关闭。“错误内容”提示“X射线发生器发生异常”，“维护信息”显示：“探测到X射线发生器有异常情况”。原因分析：X射线发生器本

进口ZSX Primus Ⅱ色散型X射线荧光光谱仪是日本理学推出的波长荧光光谱仪，性能先进，操作方便，已 广泛应用于地质、钢铁、冶炼、医药等多领域。但在实际使用过程中有时会出现这样那样的故障，影响正 常测试工作的及时性和测试结果的准确性，文章针对ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪的初始化无法进行的两个常见的故障现象进行介绍，介绍故障出现的问题、原因分析及解决方法，希望对大家有所帮助。初始化无法进行故障一故障现象：安装新光管后主机与计算机不能连接，也没有错误信息提示。原因分析：错误现象表明计算机系统探

理学多年的积累研制的Supermini200 小型波长色散型仪器， 由高性能的硬件和最新软件的完美结合，使得台式机具有高精度、高稳定的机能。Supermini200 波长色散型台式X射线荧光光谱仪检测性能非常的高，同一个画面上的分析、测量、结果确认操作简单。Supermini200还配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能够进行高灵敏度的分析。Supermini200波长色散型X射线荧光光谱仪能快速解决各行业元素分析检测问题，大大提高工作效率。下面简单介绍其中部分分析应用：部分应用1、含有稀土类重元素等氧化物的定性分

随着用户的需要也变得先进和多样化，理学集团长年以来的技术研发、工艺技巧、分析方法之精髓汇集于一体，不断满足用户不断改变的需求，理学集团研发了先进的XRF-ZSX Primus系列在各大行业中被广泛的应用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波长色散型X射线荧光光谱仪在技术上更加的先进，下面为大家简单介绍波长色散型X射线荧光光谱仪在部分领域中的应用。部分应用1、铁矿石分析 ASTM C114粉状硅酸盐水泥分析2、熔片法岩石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金钢、不锈钢中Si,Mn,P,S,Ni,C

X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）,从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色散型两种，适用于测定铍 (Be)以上的化学元素的含量。它的优点是不破坏样品，分析速度快，分析精度高，样品制备简单。X射线荧光光谱仪还可以用于微区分析及确定分层和涂层的厚度和成分。X-射线与物质的交换XRF荧光光谱仪是可以

X射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作为国家战略矿石之一,对其快速准确分析在开发利用方面具有重要意义。目前,矿物、矿石样品传统分析周期长,操作繁琐,不适合日常快速分析的要求。开发了X射线荧光光谱法快速测定硫化铜矿中主量元素的分析方法,实验采用玻璃熔融法制备硫化铜

来源：分析测试百科网我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，电子线路又进而被软件所取代。如一些仪器制造商分别用无齿轮莫尔条纹测角仪和激光定位光学传感器驱动测角仪，取代传统θ/2θ齿轮机械运动的测角仪，2θ扫描精度也由齿轮机械运动的±0.001&d

X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法：　　1、X荧光光谱仪样品制备进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；

手持式分析仪可以金属材料快速分析，所以很多金属回收的企业都选择手持式分析仪在现场直接金属废料分拣回收。手持式分析仪对大型的金属进行现场检测手持式分析仪对细小的金属现场分析！

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