铸造是最初人类较早掌握的金属热加工工艺。铸造是将原为固态加热至液态的金属物质的液体金属（例：碳、硫、磷、锰、硅、铜、铁、铝、锡、铅等）浇铸到与零件相适应的铸造空腔中，以获得零件或者毛坯的方法。那么我们应该怎么样控制铸造成分呢，就要通过直读光谱仪对其成分进行控制，以获得元素的含量。

通常把纯度（铝含量）大于99.8%的纯铝叫做高纯铝（high purity aluminium).它是以优质精铝为原料，采用定向凝固提炼法生产的。高纯铝又可细分为次超高纯铝（铝含量99.5%~99.95%)、超高纯度铝（铝含量99.996%~99.999%）和极高纯度铝（铝含量99.999%以上）。高纯铝具有比原铝更好的导电性、延展性、反射性和抗腐蚀性，在电子工业及航空航天等领域有着广泛的用途。在铝工业生产中，经常要对高纯铝进行来料检测，通常所用的检测方法有化学法、ICP法、OES光谱法等实验室检测手段，但需要花费

土壤既是自然环境的构成要素，又是农业生产重要的自然资源。随着城市化进程及工业的迅速发展，重金属、化学农药等污染物通过污水灌溉、大气烟尘沉降、垃圾掩埋处理等各种途径进入土壤。土壤中的重金属因不被微生物降解，不易移动，故会不断积累，造成严重污染，并可通过植物吸收进入食物链，造成农产品安全质量隐患，危害人类健康。

在直读光谱仪中分成CCD与COMS两种类别的光谱仪，而触及这一领域的人都知道，在直读光谱仪中检测部件十分的关键，而光谱仪检测器镜头非常的重要，我们就来认识一下光谱仪检测镜头中CMOS相比CCD的优势。  ·  信噪比CMOS信噪比低了将近100倍，所以检出限比CCD低了非常多。CMOS噪声相对CCD来说几乎是没有的，所以测样的稳定性比CCD好很多  ·  成本从成本角度来看，CCD相对于CMOS成本就要高出一截。  ·&nb

德国斯派克手持光谱仪xSORT是无损快速检测，对准即测，两秒可出结果和牌号。性能媲美台式直读光谱仪，检测效果又快又准，同时检测Mg,Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, I, Ba, W, Hg, Pb, Bi, Th,U 等元素，并且可以根据客户需求进行定制再增加元素。核心应用领域及检测元素：可同时分析47个元素模具钢分析钢铁分析

使用德国斯派克手持式光谱仪（XRF）可把不锈钢废料中的主要成分和杂质元素检测出来，不锈钢的价值主要来自于镍的含量高低，也存在钼含量的成分更有特殊价值。不锈钢废钢残渣可用于不锈钢再生产，还有铬铁废料、镍铁废料、碳钢和低合金钢废钢料、锰铁废料和镍合金废料等。在冶金过程不能减少的元素有P, V, Cu, W, Nb, Co, Sn, Pb和Ta。

铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。

石灰岩和白云岩中硫和氯的含量不同会影响材料运用效应。测定石灰岩和白云岩中硫的含量一般采用燃烧碘量法，测定氯的含量就采用氯化银比浊法。运用X射线荧光光谱仪可对岩石中元素含量进行测定。

在波长色散X射线荧光光谱仪在金属元素的测定分析已经是应用非常的成熟具有典型的用户及实验配套方案。其中，在涂层方面的检测也有很好的应用，如涂料纸上的涂料中有线状异物，用CCD定点分析可以不破坏样品得知其组成成分。CCD定点分析是利用仪器的内置CCD相机和样品台驱动装置，指定样品表面任意位置，进行定性或定量分析，这是X射线荧光光谱仪ZSX系列新添加的功能。另外，在此介绍如何使用样品台驱动装置对检测出的组成成分进行元素分布分析。操作部分一、分析仪器日本理学      波长色散型X射线荧光光谱

广州仪德精密科学仪器股份有限公司（原广州市仪德科学仪器有限公司）创立于2005年，十三年来坚持服务于国内实验分析领域，专注于各类仪器的研究制造与营销服务，是一家专门为客户打造一站式、全链条和“交钥匙”实验室而组建的高新技术企业。在日本理学波长色散X荧光光谱仪有专业的销售经验及技术团队，而且在各行业领域应用非常的广泛，其中对矿石、岩石测定分析也非常的成熟。溶结凝灰岩由熔岩凝固而成，分为玻璃状的微区镜面部分和火山灰等基质部分。镜面部分是显示岩浆本质的物质，通过对其组成的分析，可以获得重要的信息。

广州仪德公司专业代理日本理学波长X射线荧光光谱仪，在近年来，在X射线荧光分析的样品置备方面，对微小及微量样品的要求日趋严格。针对用传统仪器不能解决的样品制备及测试等问题，通过对仪器的高灵敏度化和新方法的开发，不仅解决了以上问题，而且应用范围越来越广泛。下面分享如何应用ZSX Primus系列波长X射线荧光光谱仪能够以CCD相机拍摄样品表面后得到的图象为基础，指定任意测试位置进行定性分析的仪器，通过对一片片状切削屑进行定性分析及半定量值分析的结果，判别其钢种。操作部分一、仪器波长色散X射线荧光光谱仪（ZSX Prim

广州仪德X射线荧光光谱仪对矿石领域的金属元素分析有着丰富的经验及完整的配套方案，下面分享通过日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析。俗称御影石的花岗岩属于酸性深成岩，是由石英，斜长石，云母，角闪石等构成的矿物质。在此介绍如何使用ZSX新功能---CCD相机和样品台驱动装置组合，对花岗岩进行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用仪器内置的CCD相机对直接观察样品表面，指定任意位置进行的元素分析。实验操作部分一、仪器ZSX系列波长色散X射线荧光光谱仪（日本理学）二、样品制备将样品按样品架大小切割，打磨

矿石开采及矿石判定需要的精准的进行分析测定广州仪德代理的日本理学X射线荧光光谱仪可以轻松解决，下面通过实际案例分享测定方法，为矿产行业提供宝贵经验。为对局部变色堆积岩的变色原因进行无损检查，使用X射线荧光分析仪作CCD定点分析及元素分布分析。CCD定点分析和元素分布分析是根据仪器内置的CCD相机和样品台驱动装置的组合，指定任意位置进行测试的方法。就此分析而言，这是一种非常有效的测试方法。这次以分析面积为0.5mm?的小分析直径进行元素分布分析。即使是小直径分析，也可得到很高的精度，在短时间内得到满意的结果。实验操作

广州仪德专业销售元素分析仪，具有多领域多行业设备，为各大厂家提供专业的配套方案。到底什么是仪器分析？下面广州仪德用一张图表简单跟大家分享一下。仪器分析是一大类分析方法的总称，一-般的说，仪器分析是指采用比较复杂或特殊的仪器设备，通过测量物质的某些物理或物理化学性质的参数及其变化来获取物质的化学组成、成分含量及化学结构等信息的一类方法。或者说通过施加给测试样品一定的能量，然后分析其对声、光、电等物理或物理化学信号的响应程度或变化大小。分析仪器即测量这些信号及变化的装置。根据待测物质在分析过程中被测量或用到的性质，仪器

直读光谱仪日常操作经验图片合集：

广州仪德公司专业销售日本理学波谱，波谱不限于材料的形状，应用多领域金属元素的测定分析。本文章简单介绍日本理学ZSXPrimusⅣ波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析，为矿石领域对岩石测定分析提供宝贵经验。使用仪器分析室内置的相机将岩石样品中需要关注的测量范围放大后进行了分析。红框内扩大了的范围由右图表示。可以更精密地指定测量位置。面扫3描分析结果微区测绘测绘数据的测绘视图统合为以摄像图和数据(图、测量数据)来表示。图示种类有不同模式，可以采用有效的图示。各测量点的Mg-Kα的谱线比较SQX方法做的定

广州仪德专业代理日本理学ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪，波长色散型光谱仪可解决多种不同类型样品金属元素分析，有效快速帮助各类行加工、生产。本文章分享ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪这款设备的特点。硬件最安全、软件最安心、维护最方便万一的失误导致仪器损坏令人十分痛心。高性能的精密分析仪器ZSXPrimusIV设计为即便粉末样品发生粉末飞散也不会损坏仪器的上照射方式。在软件上也设计为防止操作失误的用户分级管理方式。即便粉末样品松散下落也不会污染光学系统-上照射方式因为采用上照射方式粉末压片样品

简介：X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。使用型态：XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，

广州仪德专业代理日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪，本次文章主要分享理学中其中一款X射线荧光光谱仪在开启X射线管时出现下述故障现象?故障现象:无法开启X射线?错误级别:失败发生部件:XG发生器错误原因:与XG发生器通讯控制出错错误代码:11错误及产生原因:X射线发生器没有初始化,所以不能够控制XG?维护信息:关闭ZSX软件,并重新启动初始化。解决办法1、按照仪器给出的维护信息,关闭ZSX应用软件,关掉主机,过5分钟后,重新开启X荧光仪,ZSX应用软件正常运行,X荧光仪主机正常初始化,仪器状态正常?开启X-ray时,

广州仪德公司专业代理日本理学ZSXPrimusⅡ型波长色散X荧光光谱仪，今天分享ZSX PrimusⅡ波长色散X荧光光谱仪在使用过程中频繁出现X射线发生器发生异常状态故障现象及故障处理，其错误级别:失败，出错部位:X射线发生器，错误内容:X射线发生器异常状态，错误代码:23?（故障记录如下图片所示）故障处理1、首先排除光管散热差造成的故障?清洁二次水(内循环水)过滤器滤芯，恢复后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、补足二次水(内循环水)水箱，并调节其水压由0.32MPa-0.