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波长色散x射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分
多数操作人员对日本理学波长色散X射线荧光光谱仪检定规程可能不大清楚或者并没有具体的操作，仪德公司分享采用日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对项目检定方法操作实例，方便广大用户进行学习，本方法来源于网络数据供参考用，不做商业用。检定项目操作实例以日本理学X射线荧光光谱仪为例，以表1为技术指标，进行分析测试。1、精密度测试精密度以12次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变机械设置条件，包括晶体、计数器、准直器、2θ角度、滤波片、衰减器和样品转台位置等。上式中：s——n次测量的标
根据JJG810-1993中华人民共和国国家计量检定规程《波长色散X射线荧光光谱仪》，对仪器进行检定/校准，在确保各项指标合格的前提下，仪器方可投入使用。本文对检定中涉及的指标进行具体实验分析统计，给出详细的统计结果。并对检定的项目进行了探讨，为下一步检定规程的修订提供了建议。波长色散X射线荧光光谱仪检定规程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射线荧光光谱仪已经进行了飞速的发展，如今的波长色散X射线荧光光谱仪器已经发展到了波谱、能谱和微区扫描三者相结合的大型仪器，具备了更优异的检测性能和新增了扫描性能，并且随着国
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）,从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色散型两种，适用于测定铍 (Be)以上的化学元素的含量。它的优点是不破坏样品，分析速度快，分析精度高，样品制备简单。X射线荧光光谱仪还可以用于微区分析及确定分层和涂层的厚度和成分。X-射线与物质的交换XRF荧光光谱仪是可以
来源：分析测试百科网我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，电子线路又进而被软件所取代。如一些仪器制造商分别用无齿轮莫尔条纹测角仪和激光定位光学传感器驱动测角仪，取代传统θ/2θ齿轮机械运动的测角仪，2θ扫描精度也由齿轮机械运动的±0.001&d
能量色散X射线荧光光谱仪由X射线光管、样品室、准直器、探测器及技术电路和计算机组成。此外，亦可在样品前加一单色器，达到降低背景的目的，以改善色散X射线荧光光谱仪的检出限。它与波长色散X射线荧光光谱仪的显著不同是分光晶体，而是直接用能量探测器来分辨特征谱线，达到定性和定量分析的目的。如图：能量色散X射线荧光光谱仪 当样品中待测元素的特征射线进入能量探测器时，既会产生电子孔穴对，其数量正比于入射光子的能量，经过前置放大器，产生典雅脉冲。由于前方产生的信号幅度小，信噪比低，需要慢脉冲成型放大器将其放大，并采用滤
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。相对应的X射线荧光光谱仪有：手持式ROHS分析仪斯派克台式小焦点X射线荧光光谱仪
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