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日本理学波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在-一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X射线管的效率极低,只有1%的电功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。
扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是,①有较高的放大倍数,2-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
材料分析测试技术和仪器设备众多,并且各有优点,随其应用范围愈广,现有的测试表征手段越来越不能满足要求,发展新的表征方法、测试技术势在必行。就目前的现状,小编汇总了材料表征和性能测试过程中用到的所有仪器设备供大家参考。 材料表征 材料的成分分析 1、表征方式:X射线光电子能谱仪 效果:得到材料的元素组成及价态或化合态。 需要注意的问题:样品不能大于2mm厚,仅能测试表面元素,可以利用溅射一
便携式X射线荧光分析仪无论何时何地满足地质及矿物样品的需求。现场检定矿物及地质样品中的元素组成是一件充满挑战的事,野外条件瞬息万变,但无论是已勘探开发的区域,还是待勘探开发的处女地,其元素含量的要求是一成不变的。在大多数情况下需要在采样现场给出分析结果,将样品送回实验室意味着将耗费大量的时间而导致项目延迟。事实上,在实验室对所有样品进行分析是不可能的,存在着不可操作的问题。实时现场分析是确定地质调查区域,以及对勘探开发方向做出调整的基本手段。实时现场分析数据的准确性是不可忽视的,在各个含量段,从痕量元素到百分量级;