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斯派克XEPOS能量色散x射线荧光光谱仪(ED-XRF)重新定义ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光谱仪代表了能量色散x射线荧光技术的飞跃。它提供突破性的进步multi-elemental分析专业,小,微量元素浓度。新发展激励和检测提供出色的灵敏度和检测限制收益显著的精密度和准确度。
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本文建立了手持式能量色散型X-射线荧光光谱仪xSORT直接测定粉末红土镍矿样品中Fe,Ni,Cr,Mn,Ti,Zn,Ca含量的分析方法。
能量色散X射线荧光光谱仪由X射线光管、样品室、准直器、探测器及技术电路和计算机组成。此外，亦可在样品前加一单色器，达到降低背景的目的，以改善色散X射线荧光光谱仪的检出限。它与波长色散X射线荧光光谱仪的显著不同是分光晶体，而是直接用能量探测器来分辨特征谱线，达到定性和定量分析的目的。如图：能量色散X射线荧光光谱仪 当样品中待测元素的特征射线进入能量探测器时，既会产生电子孔穴对，其数量正比于入射光子的能量，经过前置放大器，产生典雅脉冲。由于前方产生的信号幅度小，信噪比低，需要慢脉冲成型放大器将其放大，并采用滤
目 录一、 WEEE及RoHS指令测试手段二、 产品特点和性能指标三、 配套环境和人员要求四、 标准配置附件五、 硬件耗材费用六、 仪器主要损耗七、 测试效率八、 售后服务九、 技术资料、培训、安装、调试及验收十、 仪器基本知识十一
德国斯派克分析仪器公司推出的SPECTRO MIDEX微区分析X射线荧光光谱仪适合于电子电气产品微小样品以及微小区域以及整机的元素分析，分析样品的形态可以为固体或者液体，分析过程对样品没有损害。样品室有易于调节的样品台，通过20倍率变焦摄像系统和激光指位系统，可准确的确定测量位置。X射线照射面积小可选0.2mm小焦点聚焦面积，能量无损失，定位更加精准，可以测试到细小的焊端，引脚和BGA焊球，测量点直径小为1.0mm。同一个样品在同一台机器测试多次的结果偏差小于0.03%,在不同的机台测试同一个样品的结果偏差小于
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。相对应的X射线荧光光谱仪有：手持式ROHS分析仪斯派克台式小焦点X射线荧光光谱仪
REACH法规即“化学品注册、评估、许可和限制”,是欧盟对进入其市场的所有化学品进行预防性管理的法规,该法规自2007年实施以来,不仅对我国出口化工企业带来了一系列长期的冲击,也对包括纺织、机电、玩具、家具等在内的下游产品企业的生产、管理和出口产生深远影响。近年来,欧盟对于REACH法规的消费品监管内容不断更新,仅2015年就将有(EU) No 474/2014、(EU) No 1272/2013等四个修订案生效,涉及十多种消费产品,同时欧盟对消费品符合REACH法规的执行监管也不断强化,出口企业应引起重视和关注。
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