X射线荧光光谱仪测定铜矿物类质实例应用

化学分析是测定单矿物的一种比较重要的分析方法，但样品需破碎、淘洗、磁选、人工镜下挑选、研磨、溶矿（酸溶或碱熔）、检测等分析流程，效率极其低下。

铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象（例如黝铜矿和砷黝铜矿）或者镜下光学特征相似（例如磁黄铁矿和方黄铜矿）的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。

微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射微区分析）已在地质、环境、考古和材料科学等领域获得了应用。在半导体材料方面，微探针和同步辐射技术为掺杂元素的行为研究提供 了新的方法：在考古方面应用微区能量色散x射线荧光元索成像法测定陶瓷中重金属元素；在地质学方面，应用x射线荧光光谱（XRF）微区分析技术分析陨石；应用微束X射线荧光微区测定了铀矿石；应用微束微区X荧光探针分析仪检测心矿石内的矿物颗粒。

研究内容既有定性描述（绘制待测组分测区分布图），也有定量分析。但所用分析仪器价格昂贵，普及率不高，制样复杂（电子探针、同步辐射），或者分辨率不高（微束X射线分析仪、全反射X射线光谱仪），谱线重叠严重等问题难以满足岩矿鉴定的实际需要。

带微区分析功能的波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）具有价格相对便宜、稳定性好，分析速度快、分辨率高等优点，测区面积可根据需要鉴定矿物的大小进行调整，实现原位分析。