理学ZSX PrimusⅡ波长色散X射线荧光光谱仪对矿石测定方法

日本理学ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱分析仪，该仪器为上照式端窗型单道扫描仪，配备LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五块晶体，性能优越，高精密度以及低检出限，可测试从N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

理学ZSX PrimusⅡX射线荧光光谱仪是大型的紧密分析仪器，其价格昂贵，具有准确、快速、无损、多元素同时测定、自度化程度高、测试含量范围广的特点。已经广泛应用于钢铁、地质、冶金、矿山、水泥工业、陶瓷工业、石油、环保、食品、商检等领域。

本文章通过理学ZSX PrimusⅡ波长色散X射线荧光光谱仪的无标样线性E-Z扫描方法进行半定量分析，匹配软件自带的 数据库，用SQX定性分析计算结果，对矿石样品进行粉末压片法进行测定分析。

实验部分