德国斯派克分析仪器公司推出的SPECTRO MIDEX微区分析X射线荧光光谱仪适合于电子电气产品微小样品以及微小区域以及整机的元素分析,分析样品的形态可以为固体或者液体,分析过程对样品没有损害。样品室有易于调节的样品台,通过20倍率变焦摄像系统和激光指位系统,可准确的确定测量位置。X射线照射面积最小可选0.2mm小焦点聚焦面积,能量无损失,定位更加精准,可以测试到细小的焊端,引脚和BGA焊球,测量点直径最小为1.0mm。同一个样品在同一台机器测试多次的结果偏差小于0.03%,在不同的机台测试同一个样品的结果偏差小于0.05%。可在3分钟内完成从镁到铀的数十种元素的分析。
目 录
一、WEEE及RoHS指令测试手段
二、产品特点和性能指标
三、实用性优势
四、配套环境和人员要求
五、仪器主要损耗件
六、测试效率