X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。应用于： -RoHS/WEEE-有害元素痕量分析，-焊料合金成分分析和镀层厚度测量，-电子产品中金和钯镀层的厚度测量，-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量，-贵金属合金分析和牌号鉴定。 详细信息 »